便携式手持高稳晶振测试仪 高精度晶振频率测试仪 使用频率计测试晶振频率
· 内置OCXO精密参考基准(可选);
· 经过原子钟校准,精度达到0.001Hz(对常用MHz晶振频率,相对精度0.001ppm);
· 频率范围50Hz~4GHz(升级选件后,支持50Hz~8GHz);
· 5英寸高分辨显示屏,6寸手机大小,内置锂电池,小巧便携;
· 实时信号频率测量,可以高精度显示信号实时频率、Max、Min、Avg、Pk~Pk值;
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                FC-4000-I 高精度晶振测试仪 1.1晶振介绍及应用  晶振 晶振是一种通用频率元件,以材质可分为石英晶振,陶瓷晶振;以封装可分为贴片晶振,插件晶振;从供电方式可分为有源晶振和无源晶振。一般的晶振作用是产生频率源,它给IC提供基础时钟。 在无线通信、定位、导航、遥控、精密计测仪器、物联网通信、消费电子、工业自动化、安防类、医疗仪器、汽车电子等行业领域,应用于所有的电子设备中。 晶振的性能参数至关重要,比如:频率偏差,温度漂移、相位噪声、阻抗特性等。针对常用直插和贴片晶振,有源和无源类型,我们设计了晶振测试工装,配合频率计使用方便晶振筛选和物料验证。 1.2 晶振参数特点介绍 1.频率:常用的晶振频率为8MHz、25MHz等,如单片机中常用8MHz晶振; 2.稳定度:指在规定的工作温度范围内,与标称频率允许的偏差,用ppm(百万分之一)表示,一般晶振稳定度在50ppm以下; 3.波形种类:晶振波形一般是正弦波或者方波; 4.电压:常用的有1.8V、2.5V、3.3V、5V等,其中3.3V应用甚广,也有很少的高压应用,如12V或以上; 5.温度范围:工业级标准规定的-40~+85℃。对于某些特殊场合如航天军用等,对温度有更苛刻的要求; 6.相位噪声:相位噪声是频谱纯度的度量,所以一般高质的晶振相噪更低,如TCXO或OCXO(恒温晶振); 7.封装:有插件(DIP)、贴片(SMD)封装,插件如长方形的DIP4封装,正方形的DIP8封装等,贴片有7.0*5.0、6.0*3.5mm,5.0*3.2mm,3.2*2.5mm,2.5*2.0mm等封装; 其中较为重要的指标是频率稳定度。所谓高稳,就是频率稳定度非常好的晶振,如很少受外界温度的影响,老化慢。 1.3 晶振分类 
 无源晶振  无源晶振(直插)左、(贴片)右  无源晶振等效电路与振荡电路 无源晶振是一种无极性元件,需要借助于时钟电路才能产生振荡信号,自身无法振荡起来。无源晶振一般没有电压的要求,信号电平是可变的,也就是说是根据起振电路来决定的。 有源晶振(直插)左、贴片(右)  有源晶振内部等效电路 有源晶振 
 有源晶振是一个完整的振荡器,里面除了石英晶体外,还有晶体管和阻容元件等联合放大信号。信号驱动能力好,工作较为稳定,抗干扰能力强,供电和输出连接方式相对简单,不需要复杂的配置电路。1.4 如何测试晶振频率 晶振波形解析 晶振波形一般是正弦波或者方波,当输出波形是方波时,一般上升沿比较陡峭,且包含了较多的高频分量,如果使用示波器,要保证测试的探头有足够的频率带宽(一般用X10档位扩展带宽)。 现有测试手段 1>示波器测试 有源晶振输出正弦波或方波。如果有源晶振把整形电路(施密特整形)做在有源晶振里面了的话,输出就是方波。 保证信号质量需要更好的接地; 
 探头的输入电容比晶振的负载电容要大,当使用不恰当的探头进行测量时可能会引起晶振停振;
 要显示较好的方波,仪器至少需要至少5倍的频率带宽;(比如25M晶振,那么100M的示波器看到的方波可能变形为类sin信号,有部分幅度失真,建议用200M以上的示波器,配合高带宽探头)
 一般的示波器是基于周期触发测量频率,由于示波器的时间基准误差较大,示波器只能用来粗测频率,测量误差较大;带计数器功能的示波器略好,但是相对精度多到1ppm,示波器测量对于精密的频率偏差不可取。
 2>频谱仪测试频谱仪可以测量晶振的频偏,连接好仪器后可以查看中心频率点,即晶振的频率,这种测试需要很小的BRW,同时要求频谱仪的时间基准比较准确。一般来说,频谱测量同样也有很大误差,不能用来做精密测试,低端频谱仪可能误差比示波器更大。 3>频率计测试 频率计是专门测试频率的仪器,通常有10位或12位的显示精度(比如安捷伦53181A,53132A或是德53220A等型号,但通常比较昂贵),具体精度还取决于仪器的参考时钟等级(温补,恒温,或者原子钟等),使用过程中还有仪器频标的老化或温漂等误差。 我们再提供晶振测试仪的同时,还配套本公司的便携式高精度FC-4000的射频频率计,联合完成高精度的晶体频率测试。 1.4 晶振测试仪 序号 名称 作用 1 晶振测试仪 为无源、有源晶振测试提供测试工装,并将晶振输出信号进行信号调理,以便频率计进行自动检测。可搭配机械结构进行流水化检测。 2 FC-4000频率计(50Hz~4GHz) 高精度射频频率计,加AT命令集,可与PC端、嵌入式系统、自动互测试系统进行交互。 3 频率计AT命令集 高精度射频频率计,加AT命令集,可与PC端、嵌入式系统、自动互测试系统进行交互。 1.5 晶振测试典型应用: 从业人员 - · 晶体销售,对存货,进货或销售中的晶体进行验证或筛选;
- · 公司采购,对晶振进货批次进行抽样验证;
- · 研发人员,晶体或晶振筛选小批量用于样品生产,选择频率稳定度更好或更准的晶振,尽而控制产品性能;
 
 行业应用- · 通信仪器设备制造商,对生产前的晶体物料进行筛选,避免出现不良品焊接在PCB电路上,如软件无线电、无线通信测量仪器、物联网通信组网对时钟基准晶体进行高精度测量;
- · 消费类电子产品制造商,检测电子产品时钟电路,如:智能电表、电脑主板、温控器、定时器、电子秤以及电子收款机上计时功能的精密测量;
- · 汽车电子设备、医疗电子、安防电子、工业自动化设备等生产商,对于提供基准频率的晶振进行验证或筛选;
- · 高校教学使用,可通过晶体筛选加深学生对晶体参数指标的理解,同时也可以对即将生产的物料进行测试;
- · 研究所等科研项目产品,筛选一致性好的晶振,加速科研项目的研发;
- · 石英钟表行业生产商,常用32.768kHz,对石英晶体的筛选,选择频率更加稳定的晶体,提高石英表的准确度;
 晶振测试仪工装简介 OSCT-L 高精度晶振测试工装 频率范围: · 无源:32.76kHz~32MHz; · 有源:DC~100MHz; OSCT-H 高精度晶振测试工装 频率范围: · 无源表贴:4MHz~50MHz · 无源直插:4MHz~40MHz · 有源表贴:DC~100MHz  高频/低频 晶振测试工装介绍 高频/低频 晶振测试工装介绍产品文档 下载(PDF文件): · 用户手册.pdf · 产品手册或选型指南.pdf 型号 FC-4000-I 低频版 32.768kHz~32MHz (无源) DC~100MHz (有源) FC-4000-I 高频版 4MHz~50MHz (无源表贴) 4MHz~40MHz (无源直插) DC~100MHz(有源) 电源 供电电源 DC 5V/1A 有源晶振供电 内部:3.3V/5V;外部供电:其它供电 尺寸 外形尺寸 92mm*58mm*22mm 环境 工作温度 -20~45度 存储温度 -20~70度 接口 射频接口 SMA-k(三路) 供电接口 Micro USB接口 FC-4000-I系列 晶振测试仪 可检测封装 频率范围 无源晶振 低频版 OSCT-L (默认) SMD表贴封装: 5032(2P)/5032(4P)/3215(2P)/3225(4P)/2550(4P) 32.768kHz~32MHz(无源) 
 DIP直插封装: 双列直插 高频版 OSCT-H SMD表贴封装: 5032(2P)/5032(4P)/3215(2P) 3225(4P)/2550(4P) 4MHz~50MHz(无源表贴) DIP直插封装:双列直插 4MHz~40MHz(无源直插) 有源晶振 SMD表贴封装: 7050(4P)/5032(4P)/3225(4P) /2550(4P) 各两组 DC~100MHz (有源表贴) 订货信息 OSCT系列 晶振测试工装 描述 订货号 主机 低频高精度晶振测试仪 FC-4000-I 标配 跳线帽 
 
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            FC4000系列:FC4000;FC4000-AT;FC4000-I;FC4000-I-AT
 
     
         
         
         
         
         
                     
                 
                     
                 
                     
                 
                     
                 
                     
                 
                     
                


 高频/低频 晶振测试工装介绍
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